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  • 单晶硅片测厚仪,硅片厚度测定仪,硅片厚度检验仪

    单晶硅片测厚仪,硅片厚度测定仪,硅片厚度检验仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

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  • 高精度CHY-C2A薄膜测厚仪(GB/T 6672)

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  • 薄膜厚度测试仪,薄膜厚度检测仪,膜厚仪

    薄膜厚度测试仪,薄膜厚度检测仪,膜厚仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪,专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机,更加准确、高效的进行连续多点测量。

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    更新时间:2023-06-12
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